Find N3入網：最高支持16+1TB
OPPO將于近期登場的Find N3折疊屏目前已經正式入網，型號為PHN110。本次Find N3在外觀方面相比前兩代有很大的變化，不再是小號的橫向折疊屏，而是跟別的廠商一樣采用了較為常見的
在泰瑞達舉辦的2023媒體溝通會上，泰瑞達亞太區銷售副總裁Richard Hsieh表示，芯片測試產業面臨著諸多挑戰，同時也存在很大的機遇。他指出：“芯片設計越來越復雜，晶體管數量越來越多，測試也越來越復雜；為滿足加快上市時間的要求，就要增加同測數，這將導致接口設計變得更加復雜。
他認為，測試產業是一個重資本投資的產業，客戶采購時更關心的是投資回報，只有機臺能夠測得更多，才能提高利用率。因此，怎樣在復雜的情況下順利推 出產品，贏得比競爭對手更快的時間，能夠獲得前期利潤，是擺在芯片制造企業和測試設備企業面前的巨大挑戰。
他補充說：“涉及高階制程會有很多測試數據，如何分析、應用這些測試數據，提升芯片的設計質量和量產良率，這是另一個不容忽視的挑戰。”
據他介紹，泰瑞達的一些客戶現在還在使用90年代推出的機臺，而泰瑞達的新產品也是層出不窮，比如現在的數據分析功能，能夠從始至終幫助行業實現降本增效、協同創新，為客戶創造價值，助力客戶獲得成功。
數據分析對測試有多重要？
泰瑞達中國區總經理Felix Huang在分享先進節點下汽車芯片所面臨的挑戰與應對良策時，特別提到了數據在測試中的重要性。他指出，對于芯片測試來說，在開始階段就需要制定測試策略和測試項目；在實施階段，一定要確保大代碼量的測試程序不出現額外的問題，以保證芯片的安全和高質量；還要有強大的數據分析能力。在這些方面，泰瑞達可以提供全線的解決方案。”
他說，為了縮短上市時間，要從芯片設計開始就考慮芯片測試，甚至是系統級測試。因為一些復雜測試項目是ATE所無法覆蓋的，或者是成本太高，需要采用系統級測試（System Level Test，SLT）。為此，泰瑞達開發了一個可以連接EDA的軟件工具PortBridge，可以連接EDA工具和ATE測試機，設計人員通過PortBridge收集測試數據，將分析結果反饋給Fab，從早期階段介入幫助Fab廠商提高良率，實現順利生產。
他特別指出，要達到零缺陷，除了考慮測試策略和流程，還需要考慮用什么樣的工具來支撐。而使用可靠的工具進行實時性、可預測性、智能性的分析至關重要。
“重要的事情要說三遍：數據、數據、數據。數據是實現汽車質量的重要途徑。從前到后，背后流動的是大數據，海量數據才能支撐達到0 DPPM。”他強調。
他解釋說，在ATE測試晶圓之后，通過UltraEDGE服務器中的FDE Fault Detect Engine工具，能夠對大量數據進行質量和數據統計，也可以運行第三方數據分析軟件，如OptimalPlus、PDF數據管理軟件等，通過加密和機器學習來分析原始數據，之后形成晶圓圖，顯示出哪些Die可以通過，哪些Die是失效的，從而發現一些潛在的缺陷。將這些數據反饋給代工廠，調整工藝參數，就可以優化工藝流程，最終提升良率，降低成本。
Felix Huang總結道：“測試一定要定義好測試策略，包括芯片早期調試軟件和工具，如PortBridge等。在開發和發布流程中，使用ATE行業中最好的開發軟件IG-XL、能夠檢測開發代碼質量的Oasis，以及全自動化全流程管理系統DevOps，以保證測試程序的質量可靠；與此同時，利用強大的數據分析軟件分析從前到后的數據也非常重要，這樣才能實現測試的零缺陷。”
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