圖片來源:天眼查
專利摘要顯示,本申請提供了一種圖像處理方法和設備,能夠獲得較好的去除反光的效果,提高背景圖像的質量,提升用戶體驗。該方法包括:獲取待處理圖像,待處理圖像是隔著透明介質對目標對象進行拍攝得到的;基于待處理圖像的第一左視圖和第一右視圖,確定第一指導圖,第一指導圖包括目標對象的高頻信息;將待處理圖像和第一指導圖輸入至訓練好的重建網絡模型中,得到處理后圖像,處理后圖像為對待處理圖像進行去反射處理得到的圖像,其中,重建網絡模型是基于樣本圖像、樣本圖像的背景圖像和樣本圖像的反射圖像進行訓練得到的,樣本圖像的背景圖像是未隔著透明介質進行拍攝得到的,樣本圖像的反射圖像是對透明介質進行拍攝得到的。(校對/劉沁宇)
圖片來源:天眼查
專利摘要顯示,本申請提供一種存儲器的檢測方法及存儲器,涉及半導體技術領域,用于解決存儲單元和位線之間的漏電檢測復雜的技術問題,該存儲器的檢測方法包括:選通字線,通過位線向所有的存儲單元中寫入預設存儲數據;關閉字線,并向位線上施加第一電壓,以使位線上的電位與存儲單元的電位不同;保持預設時間后,選通字線,通過位線讀取所有的存儲單元中的實際存儲數據;將每個存儲單元的實際存儲數據與預設存儲數據進行比較,以判斷該存儲單元是否存在漏電。通過在所有的存儲單元中進行預設存儲數據的寫入和實際存儲數據的讀出,且位線上的電位單獨施加,無需依次選通字線,存儲單元與位線之間的漏電檢測簡單。(校對/劉沁宇)
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