Find N3入網(wǎng)：最高支持16+1TB
OPPO將于近期登場(chǎng)的Find N3折疊屏目前已經(jīng)正式入網(wǎng)，型號(hào)為PHN110。本次Find N3在外觀方面相比前兩代有很大的變化，不再是小號(hào)的橫向折疊屏，而是跟別的廠商一樣采用了較為常見的
圖片來(lái)源：天眼查
專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N圖像處理方法和設(shè)備，能夠獲得較好的去除反光的效果，提高背景圖像的質(zhì)量，提升用戶體驗(yàn)。該方法包括：獲取待處理圖像，待處理圖像是隔著透明介質(zhì)對(duì)目標(biāo)對(duì)象進(jìn)行拍攝得到的；基于待處理圖像的第一左視圖和第一右視圖，確定第一指導(dǎo)圖，第一指導(dǎo)圖包括目標(biāo)對(duì)象的高頻信息；將待處理圖像和第一指導(dǎo)圖輸入至訓(xùn)練好的重建網(wǎng)絡(luò)模型中，得到處理后圖像，處理后圖像為對(duì)待處理圖像進(jìn)行去反射處理得到的圖像，其中，重建網(wǎng)絡(luò)模型是基于樣本圖像、樣本圖像的背景圖像和樣本圖像的反射圖像進(jìn)行訓(xùn)練得到的，樣本圖像的背景圖像是未隔著透明介質(zhì)進(jìn)行拍攝得到的，樣本圖像的反射圖像是對(duì)透明介質(zhì)進(jìn)行拍攝得到的。（校對(duì)/劉沁宇）
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專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N存儲(chǔ)器的檢測(cè)方法及存儲(chǔ)器，涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，用于解決存儲(chǔ)單元和位線之間的漏電檢測(cè)復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題，該存儲(chǔ)器的檢測(cè)方法包括：選通字線，通過(guò)位線向所有的存儲(chǔ)單元中寫入預(yù)設(shè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)；關(guān)閉字線，并向位線上施加第一電壓，以使位線上的電位與存儲(chǔ)單元的電位不同；保持預(yù)設(shè)時(shí)間后，選通字線，通過(guò)位線讀取所有的存儲(chǔ)單元中的實(shí)際存儲(chǔ)數(shù)據(jù)；將每個(gè)存儲(chǔ)單元的實(shí)際存儲(chǔ)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以判斷該存儲(chǔ)單元是否存在漏電。通過(guò)在所有的存儲(chǔ)單元中進(jìn)行預(yù)設(shè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的寫入和實(shí)際存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的讀出，且位線上的電位單獨(dú)施加，無(wú)需依次選通字線，存儲(chǔ)單元與位線之間的漏電檢測(cè)簡(jiǎn)單。（校對(duì)/劉沁宇）
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本文鏈接：http://www.www897cc.com/showinfo-22-8724-0.html【授權(quán)】三星將96項(xiàng)專利獨(dú)家許可權(quán)授予IKT；榮耀“圖像處理方法和設(shè)備”專利公布；華為公開“晶圓處理設(shè)備和半導(dǎo)體制造設(shè)備”專利
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