容量越大越不壞？24萬塊硬盤故障率報(bào)告公布 這些產(chǎn)品零故障
8月5日消息，云存儲(chǔ)服務(wù)商Backblaze發(fā)布了最新的硬盤故障率報(bào)告，年故障率有所上升。Backblaze發(fā)布的硬盤季度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，其中包括故障率等重要方面。這些結(jié)
快科技8月13日消息，據(jù)“復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院”官微發(fā)文，周鵬-劉春森團(tuán)隊(duì)從界面工程出發(fā)，在國際上首次實(shí)現(xiàn)了大規(guī)模1Kb納秒超快閃存陣列集成驗(yàn)證，并證明了其超快特性可延伸至亞10納米。
據(jù)介紹，人工智能的飛速發(fā)展迫切需要高速非易失存儲(chǔ)技術(shù)，當(dāng)前主流非易失閃存的編程速度普遍在百微秒級，無法支撐應(yīng)用需求。
該研究團(tuán)隊(duì)在前期發(fā)現(xiàn)二維半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)能夠?qū)⑵渌俣忍嵘磺П兑陨希瑢?shí)現(xiàn)顛覆性的納秒級超快存儲(chǔ)閃存技術(shù)。但是，實(shí)現(xiàn)規(guī)模集成、走向?qū)嶋H應(yīng)用仍具有挑戰(zhàn)。
為此，研究人員開發(fā)了超界面工程技術(shù)，在規(guī)?；S閃存中實(shí)現(xiàn)了具備原子級平整度的異質(zhì)界面，結(jié)合高精度的表征技術(shù)，顯示集成工藝優(yōu)于國際水平。
研究人員通過嚴(yán)格的直流存儲(chǔ)窗口、交流脈沖存儲(chǔ)性能測試，證實(shí)了二維新機(jī)制閃存在1Kb存儲(chǔ)規(guī)模中，在納秒級非易失編程速度下的良率可高達(dá)98%，這一良率高于國際半導(dǎo)體技術(shù)路線圖對閃存制造89.5%的良率要求。
此外，研究團(tuán)隊(duì)研發(fā)了不依賴先進(jìn)光刻設(shè)備的自對準(zhǔn)工藝，結(jié)合原始創(chuàng)新的超快存儲(chǔ)疊層電場設(shè)計(jì)理論，成功實(shí)現(xiàn)了溝道長度為8納米的超快閃存器件，是目前短溝道閃存器件，并突破了硅基閃存物理尺寸極限（約15納米）。
在原子級薄層溝道支持下，這一超小尺寸器件具備20納秒超快編程、10年非易失、十萬次循環(huán)壽命和多態(tài)存儲(chǔ)性能。有望推動(dòng)超快顛覆性閃存技術(shù)產(chǎn)業(yè)化。
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