ictimes消息,天眼查顯示,上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司成功獲授權(quán)了一項(xiàng)名為“半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法”的專利,該專利的授權(quán)公告日為11月17日,授權(quán)公告號為CN113921595B。專利摘要揭示了一種創(chuàng)新的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法,為半導(dǎo)體領(lǐng)域帶來了新的技術(shù)突破。
該半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括多個關(guān)鍵組成部分,首先是摻雜有第一離子的襯底,為整個結(jié)構(gòu)奠定了基礎(chǔ)。在襯底內(nèi),深溝結(jié)構(gòu)的存在進(jìn)一步豐富了半導(dǎo)體的形態(tài),為電子元件的性能提供了更多可能。在襯底和深溝結(jié)構(gòu)的頂部,阻擋摻雜區(qū)的設(shè)置有助于調(diào)控電子流的傳輸,提高了半導(dǎo)體器件的整體效能。
值得注意的是,半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中還涉及到第一外延層、體區(qū)、源區(qū)以及柵極結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵元素。這些組件的有機(jī)結(jié)合使得半導(dǎo)體器件在性能和功能上都取得了顯著的提升。特別是,柵極結(jié)構(gòu)的巧妙設(shè)計(jì),使其既能與深溝結(jié)構(gòu)相鄰,又能與體區(qū)和源區(qū)表面相互接觸,為電子元件的精密控制提供了更多可能性。
專利摘要中還提到了集電區(qū),其位于襯底底部,與深溝結(jié)構(gòu)的底部之間被襯底間隔。這一設(shè)計(jì)考慮到了電子元件的整體結(jié)構(gòu),通過巧妙的排列,進(jìn)一步提升了半導(dǎo)體器件的隔離性能和穩(wěn)定性。
總體而言,通過這項(xiàng)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法的專利,上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司在絕緣柵雙極型晶體管的性能上取得了顯著的突破。這一創(chuàng)新將有望推動半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展,并為未來的電子器件提供更為高效和可靠的解決方案。
本文鏈接:http://www.www897cc.com/showinfo-27-33295-0.html華虹宏力獲“半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法”專利
聲明:本網(wǎng)頁內(nèi)容旨在傳播知識,若有侵權(quán)等問題請及時(shí)與本網(wǎng)聯(lián)系,我們將在第一時(shí)間刪除處理。郵件:2376512515@qq.com